Výsledky vyhledávání
- 1.0451533 - ÚPT 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Oral, Martin - Neděla, Vilém
Dynamic Correction of Higher-Order Deflection Aberrations in the Environmental SEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 21, S4 (2015), s. 194-199. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-22777S; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: environmental SEM * ESEM * shifted deflection pivot point * Higher order deflection aberrations * vignetting * dynamic focusing * dynamic stigmator * dynamic correction
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.730, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252669 - 2.0335269 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Runštuk, Jiří - Neděla, Vilém - Čudek, P. - Jirák, J.
In-situ observation of salt crystallization using environmental scanning electron microscopy.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 225-226. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: crystallization * in-situ study * environmental SEM * salt
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/97905.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179778 - 3.0333986 - ÚPT 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Neděla, Vilém
Controlled dehydration of a biological sample using an alternative form of environmental SEM.
Journal of Microscopy. Roč. 237, č. 1 (2010), s. 7-11. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: biological sample * dehydration * environmental SEM * AQUASEM II * hydration system
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.872, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178835 - 4.0205602 - UPT-D 20020152 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Wandrol, Petr
Studium kontrastních mechanismů v environmentální rastrovací elektronové mikroskopii.
[Study of contrast mechanisms in environmental scanning electron microscopy.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 47 - 48. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065107; GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: environmental SEM * secondary electron * contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101215 - 5.0205600 - UPT-D 20020150 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Schneider, Luděk
Segmentový ionizační detektor pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop.
[Segment ionization detector for environmental scanning electron microscope.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 39 - 41. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: electron microscope * ionization detector * environmental SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101213 - 6.0205599 - UPT-D 20020149 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Seďa, Bohuslav
Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
[Wave-optical contrasts in the scanning electron microscope.]
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2002 - (Müllerová, I.), s. 37. ISBN 80-238-9915-5.
[PDS 2002. Brno (CZ), 16.12.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: electron microscope * ionization detector * environmental SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101212 - 7.0205491 - UPT-D 20020041 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Romanovský, Vladimír - Autrata, Rudolf
Imaging of the voltage contrast in environmental SEM.
Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society. Brno: CSMS, 2002 - (Frank, L.), s. 97 - 98. ISBN 80-238-8749-1.
[CSEM. Vranovská Ves (CZ), 08.02.2002-09.02.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: environmental SEM * contrast * detectors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101104 - 8.0109029 - UPT-D 20040030 RIV BE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk
Low energy and high pressure trends in SEM instrumentation - the state of the art.
[Tendence k nízkým energiím a vysokým tlakům v přístrojové technice pro REM - současný stav.]
EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress. Vol. 1. Liege: Belgian Society for Microscopy, 2004, s. 321-322.
[EMC 2004 /13./ European Microscopy Congress. Antwerp (BE), 22.08.2004-27.08.2004]
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Klíčová slova: low energy SEM * variable pressure SEM * environmental SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016141 - 9.0100009 - UPT-D 20040009 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Neděla, Vilém - Autrata, Rudolf
Electron microscopy methods for observation of water containing specimens.
[Metody elektronové mikroskopie pro pozorování vzorků obsahujících vodu.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 49, č. 4 (2004), s. 112-114. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065107
Klíčová slova: environmental SEM * specimen chamber * wet biological specimens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007516 - 10.0092588 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Černoch, P. - Jirák, Josef
Optimization of Secondary Electron Detection by Segmental lonization Detector in Environmental SEM.
[Optimalizace detekce sekundárních elektronů segmentovým ionizačním detektorem v environmentálním REM.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 79-80. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: secondary electron detection * segmental ionization detector * environmental SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152866