Výsledky vyhledávání
- 1.0517631 - ÚPT 2020 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
Spektrometr pozorovací komory rastrovacího elektronového mikroskopu a rastrovací elektronový mikroskop s pozorovací komorou tento spektrometr obsahující.
[Scanning electron microscope observation spectrometer and scanning electron microscope with the observation chamber.]
2019. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 26.11.2019. Číslo vzoru: 33419
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * energy filtering * toroidal analyser
Obor OECD: Coating and films
https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302936 - 2.0517195 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
Miniaturizovaný analyzátor sekundárních elektronů.
[Miniaturized secondary electron analyser.]
Interní kód: APL-2019-19 ; 2019
Technické parametry: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce miniaturizovaného spektrometru sekundárních elektronů umístitelného dovnitř komory rastrovacího elektronového mikroskopu přímo na manipulátor vzorku. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů tyto prvky: vzorek, elektrodu vymezující úhlový rozsah diagnostikovaných elektronů, dvojici elektrod toroidního tvaru, napěťový a detekční systém. Energie primárního svazku: 2 keV, energie zkoumaných elektronů 0–50 eV, výška 28 mm, průměr 35 mm
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika Ph.D., mika@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * energy filtering * toroidal analyser
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302484 - 3.0491708 - ÚPT 2019 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Radlička, Tomáš - Unčovský, M. - Oral, Martin
In lens BSE detector with energy filtering.
Ultramicroscopy. Roč. 189, JUN (2018), s. 102-108. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron optics * scanning electron microscopy * back scattered electrons * energy filtering
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 2.644, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0285349 - 4.0109127 - UPT-D 20040132 JP eng A - Abstrakt
Matsuda, K. - Ishida, Y. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Ikeno, S.
Cube phase in excess-Mg Al-Mg-Si alloy studied by EFTEM.
Abstract Booklet - International Symposium on Characterization of Real Materials and Real Processing by Transmission Electron Microscopy. Nagoya: Nagoya University, 2005. s. 27.
[International Symposium on Characterization of Real Materials and Real Processing by Transmission Electron Microscopy. 26.01.2005, Nagoya]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: energy filtering TEM * Al-Mg-Si alloy * cube-phase
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016239 - 5.0048810 - ÚPT 2007 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matsuda, K. - Ishida, Y. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Ikeno, S.
Chemical Analysis of the Cube Phase in Al-Mg-Si Alloy by EFTEM.
[Chemická analýza kubické fáze ve slitině Al-Mg-Si zjištěná pomocí EFTEM.]
PTM - Solid-Solid Phase Transformations in Inorganic Materials 2005. Warrendale, PA: TMS, 2005, s. 371-376. ISBN 0-87339-608-1.
[Solid-Solid Phase Transformations in Inorganic Materials 2005. Phoenix, Arizona (US), 29.05.2005-03.06.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Al-Mg-Si alloy * cube phase * energy filtering TEM * EDS * SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139355