Výsledky vyhledávání
- 1.0525112 - ÚPT 2021 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Skoupý, Radim - Fořt, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav
Nanoscale Estimation of Coating Thickness on Substrates via Standardless BSE Detector Calibration.
Nanomaterials. Roč. 10, č. 2 (2020), č. článku 332. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MPO(CZ) FV30271
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * quantitative imaging * back-scattered electrons * standardless calibration * electron mirror * sample bias * Monte Carlo simulation * thin coating layers
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Impakt faktor: 5.076, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/10/2/332
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309322 - 2.0315455 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lencová, Bohumila
Solving Complex Electron Optical Problems with EOD.
[Řešení složitých elektronově optických problémů v EOD.]
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 65-68. ISBN 978-80-254-0905-3.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron optical design * electron mirror * hexapole corrector
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165654