Výsledky vyhledávání
- 1.0459102 - ÚPT 2017 RIV HR eng M - Část monografie knihy
Frank, Luděk
Scanning Electron Microscopy with a Retarded Primary Beam.
Modern Electron Microscopy in Physical and Life Sciences. Rijeka: InTech, 2016 - (Janeček, M.; Král, R.), s. 49-78. ISBN 978-953-51-2252-4
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * slow electrons * electron microscopy of materials * biomedical eletron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0259355 - 2.0082249 - ÚPT 2007 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Ikeno, S.
Cathode Lens Mode of the SEM in Materials Science Applications.
[Použití režimu katodové čočky v REM v materiálových vědách.]
Materials Transactions. Roč. 48, č. 5 (2007), s. 944-948. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron microscopy of materials * scanning electron microscopy * low energy electron microscopy * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.018, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0145865