Výsledky vyhledávání
- 1.0109034 - UPT-D 20040035 RIV BE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Novák, L. - Horáček, Miroslav - Konvalina, Ivo
A method for objective quantification of the efficiency of electron detectors.
[Metoda kvantifikace účinnosti elektronových detektorů.]
EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress. Vol. 1. Liege: Belgian Society for Microscopy, 2004, s. 67-68.
[EMC 2004 /13./ European Microscopy Congress. Antwerp (BE), 22.08.2004-27.08.2004]
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Klíčová slova: detection quantum efficiency * electron detectors * collection efficiency
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016146 - 2.0089384 - ÚPT 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Wandrol, Petr - Horák, Petr
Problems of the YAP:Ce Scintillator Use in Detectors of Signal Electrons SEM.
[Problémy použití YAP:Ce scintilátoru v detektorech signálních elektronů v SEM.]
Microscopy and Microanalysis. Roč. 13, Suppl. 3 (2007), s. 84-85. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650501
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: yttrium aluminum perovskite doped by cerium * single crystal scintillator * cathodoluminesce * electron detectors * scanning electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.941, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150615 - 3.0047352 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
El Gomati, M. M. - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Electron detectors.
[Elektronové detektory.]
Interní kód: EDUS ; 2003
Technické parametry: Nový typ detektoru pro kompaktní rastrovací mikroskop s velmi pomalými elektrony
Ekonomické parametry: Patent číslo US 6,570,163: platnost patentu pro USA
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: electron detectors * low energy electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138284 - 4.0047351 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
El Gomati, M. M. - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Electron detectors.
[Elektronové detektory.]
Interní kód: EDEUR ; 2006
Technické parametry: Nový typ detektoru pro kompaktní rastrovací mikroskop s velmi pomalými elektrony
Ekonomické parametry: Patent číslo EP1012867: platnost patentu pro DE, FR, GB, NL
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron detectors * low energy electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138283 - 5.0047349 - ÚPT 2006 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
[Method for quantification of the detection efficiency of secondary electron detectors in the scanning electron microscope.]
Interní kód: DETEFF ; 2005
Technické parametry: Metoda objektivního hodnocení a postup měření kvantové detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu ve statickém režimu stabilního signálu a procedura vyhodnocení časové odezvy detektoru na signálový skok.
Ekonomické parametry: Metoda umožňuje objektivní srovnání různých konfigurací detektorů a rovněž vyhodnocování efektu konstrukčních změn a inovací.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron detectors * scanning electron microscope * detective quantum efficiency * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138282