Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0503005 - ÚFE 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Yatskiv, Roman - Grym, Jan - Schenk, Antonín - Vaniš, Jan - Roesel, David - Chlupová, Šárka
    Optoelectrical characterization of well oriented n-type zno nanorod arrays on p-type GaN templates.
    9TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOMATERIALS - RESEARCH & APPLICATION (NANOCON 2017). Ostrava: TANGER, 2018, s. 787-791. ISBN 978-80-87294-81-9.
    [9th International Conference on Nanomaterials - Research and Application (NANOCON 2017). Brno (CZ), 18.10.2017-20.10.2017]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-00546S; GA ČR(CZ) GA15-17044S
    Institucionální podpora: RVO:67985882
    Klíčová slova: Photoluminescence spectroscopy * Conductive atomic force microscopy * Focused ion beam
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0294834
     
     
  2. 2.
    0498933 - ÚFCH JH 2019 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Řáhová, Jaroslava - Sampathkumar, Krishna - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Hájková, Zdeňka - Fejfar, Antonín - Frank, Otakar
    Local Photovoltaic Properties of Graphene-Silicon Heterojunctions.
    Physica Status Solidi B. Roč. 255, č. 12 (2018), č. článku 1800305. ISSN 0370-1972. E-ISSN 1521-3951
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-18702S; GA MŠMT LM2015087; GA MŠMT EF16_019/0000760
    Institucionální podpora: RVO:61388955 ; RVO:68378271
    Klíčová slova: solar-cells * schottky junctions * efficient * probe * photoconductivity * oxide * conductive atomic force microscopy
    Obor OECD: Electrochemistry (dry cells, batteries, fuel cells, corrosion metals, electrolysis); Textiles (FZU-D)
    Impakt faktor: 1.454, rok: 2018
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291226
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0498933.pdf21.2 MBVydavatelský postprintvyžádat
     
     
  3. 3.
    0389053 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Vetushka, Aliaksi - Itoh, T. - Nakanishi, Y. - Fejfar, Antonín - Nonomura, S. - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
    Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls.
    Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2545-2547. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT 7E10061
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: carbon nanowalls * conductive atomic force microscopy * torsion resonance mode * nanostructures
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.597, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0217956
     
     
  4. 4.
    0386629 - FZÚ 2013 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Fejfar, Antonín - Neykova, Neda - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Itoh, T. - Nakanishi, Y. - Nakamura, S. - Vaněček, Milan - Kočka, Jan
    Microscopic study of electronic properties of individual components of nanostructured solar cells.
    Proceedings of the 27th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. München: WIP Wirtschaft und Infrastruktur GmbH & Co Planungs KG, 2012 - (Nowak, S.), s. 509-511. ISBN 3-936338-28-0.
    [European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (PVSEC) /17./. Frankfurt (DE), 24.09.2012-28.09.2012]
    Grant CEP: GA MŠMT 7E10061; GA ČR(CZ) GAP108/11/0937; GA MŠMT(CZ) 7E09057; GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA MPO FR-TI2/736
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode; European Commission(XE) 214134 - N2P
    Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101217
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: silicon thin films * nanostructures * nanowires * conductive atomic force microscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215978
     
     
  5. 5.
    0375356 - FZÚ 2012 JP eng A - Abstrakt
    Vetushka, Aliaksi - Itoh, T. - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan
    Nanoscale conductance study of delicate nanostructures by Torsional Resonance Tunneling Atomic Force Microscopy.
    ICANS 24. Program and Abstracts Book. Nara, 2011. s. 309.
    [International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors /24./ (ICANS 24). 21.08.2011-26.08.2011, Nara]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: carbon nanowalls * conductive atomic force microscopy * torsion resonance mode * nanostructures
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208031
     
     
  6. 6.
    0375338 - FZÚ 2012 CZ eng D - Dizertace
    Vetushka, Aliaksi
    Mechanical and electrical properties of microcrystalline silicon thin films.
    Matematicko-fyzikální fakulta UK. Obhájeno: Matematicko-fyzikální fakulta UK. 29.03.2011. - Praha: Univerzita Karlova, 2010. 86 s.
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: conductive atomic force microscopy * raman micro-spectroscopy * microcrystalline silicon
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    http://dl.dropbox.com/u/26071625/AV_PhD.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208019
     
     
  7. 7.
    0355935 - FZÚ 2011 DE eng A - Abstrakt
    Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Fejfar, Antonín - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
    Charge transport through grain boundaries in mixed phase silicon thin films studied by conductive atomic force microscopy.
    Proceedings of the 25th European Photovoltaic Solar Energy Conference / 5th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion. München: WIP-Renewable energies, 2010. s. 5-5. ISBN 3-936338-26-4.
    [European Photovoltaic Solar Energy Conference /25./ and World Conference on Photovoltaic Energy Conversion /5./. 06.09.2010-10.09.2010, Valencia]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: grain boundaries * silicon thin films * conductive atomic force microscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194591
     
     
  8. 8.
    0355032 - FZÚ 2011 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
    Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon".
    Physical Review. B. Roč. 81, č. 23 (2010), 237301/1-237301/4. ISSN 1098-0121
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: conductive atomic force microscopy * oxidation * microcrystalline silicon
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 3.772, rok: 2010
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0193885
     
     
  9. 9.
    0347825 - FZÚ 2011 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Fejfar, Antonín - Vetushka, Aliaksi - Kalusová, V. - Čertík, Ondřej - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
    Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films.
    Physica Status Solidi A. Roč. 207, č. 3 (2010), s. 582-586. ISSN 1862-6300. E-ISSN 1862-6319
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: conductive atomic force microscopy (C-AFM) * mixed phase silicon thin films
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.458, rok: 2010
    http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200982907
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0188510
     
     
  10. 10.
    0347762 - FZÚ 2011 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
    Role of the tip induced local anodic oxidation in the conductive atomic force microscopy of mixed phase silicon thin films.
    Physica Status Solidi C. Roč. 7, 3-4 (2010), s. 728-731. ISSN 1862-6351
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: local anodic oxidation (LAO) * conductive atomic force microscopy (C-AFM)
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    http://www3.interscience.wiley.com/journal/123289759/abstract
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0188465
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.