Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0525112 - ÚPT 2021 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Skoupý, Radim - Fořt, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav
    Nanoscale Estimation of Coating Thickness on Substrates via Standardless BSE Detector Calibration.
    Nanomaterials. Roč. 10, č. 2 (2020), č. článku 332. E-ISSN 2079-4991
    Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MPO(CZ) FV30271
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SEM * quantitative imaging * back-scattered electrons * standardless calibration * electron mirror * sample bias * Monte Carlo simulation * thin coating layers
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
    Impakt faktor: 5.076, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.mdpi.com/2079-4991/10/2/332
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309322
     
     
  2. 2.
    0491708 - ÚPT 2019 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Radlička, Tomáš - Unčovský, M. - Oral, Martin
    In lens BSE detector with energy filtering.
    Ultramicroscopy. Roč. 189, JUN (2018), s. 102-108. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron optics * scanning electron microscopy * back scattered electrons * energy filtering
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 2.644, rok: 2018
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0285349
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.