Výsledky vyhledávání
- 1.0322619 - ÚPT 2009 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Runštuk, Jiří - Neděla, Vilém
Komora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM.
[Chamber for a study of highly-aggressive samples in VP-SEM.]
Interní kód: HS-1 ; 2008
Technické parametry: Nově navržená a zkonstruovaná komora umožňuje studium agresivních vzorků při velmi vysokém tlaku plynů v komoře vzorku EREM tak, aby nedocházelo k poškození mikroskopu.
Ekonomické parametry: Zařízení lze použít v elektronových mikroskopech všech světových výrobců. Významně prodlužuje životnost a zlepšuje parametry mikroskopů v případě, že jsou dlouhodobě používány pro studium agresivních vzorků, jako jsou např. kyseliny.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * aggressive samples * chamber
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170818 - 2.0315083 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Runštuk, Jiří
Study of highly-aggressive samples using the variable pressure SEM.
[Studium vysoce agresivních vzorků pomocí EREM.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 589-590. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * battery mass * aggressive samples
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004854