Výsledky vyhledávání
- 1.0523927 - ÚJF 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Torrisi, L. - Silipigni, L. - Cutroneo, Mariapompea - Torrisi, Alfio
Graphene oxide as a radiation sensitive material for XPS dosimetry.
Vacuum. Roč. 173, č. 3 (2020), č. článku 109175. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715.
[24th Ion Surface Interactions Conference. Moscow, 19.08.2019-23.08.2019]
Grant CEP: GA MŠMT LM2015056; GA ČR(CZ) GBP108/12/G108
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: Graphene oxide * reduced graphene oxide * XPS analysis * dosimeter * soft X-ray dose
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 3.627, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2020.109175
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0308217 - 2.0504878 - FZÚ 2020 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Adams, W.T. - Vinueza, N.R. - Romanyuk, Olexandr - Gordeev, Ivan - Paskova, T. - Ivanisevic, A.
Nanostructured GaOOH modified with reactive yellow, red and blue water-soluble dyes.
AIP Advances. Roč. 9, č. 2 (2019), s. 1-6, č. článku 025005. E-ISSN 2158-3226
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2015088
Grant ostatní: National Science Foundation OISE(US) 458427
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: nanostructures * XPS analysis * GaOOH
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 1.337, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0296423Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0504878.pdf 0 2.2 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen - 3.0496765 - ÚJF 2019 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Silipigni, L. - Cutroneo, Mariapompea - Salvato, G. - Torrisi, L.
In-situ soft X-ray effects on graphene oxide films.
Radiation Effects and Defects in Solids. Roč. 173, 9-10 (2018), s. 740-750. ISSN 1042-0150. E-ISSN 1029-4953.
[14th Workshop on European Collaboration for Higher Education and Research in Nuclear Engineering and Radiological Protection (CHERNE). Macugnaga, 29.05.2018-01.06.2018]
Grant CEP: GA ČR GA16-05167S
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: graphene oxide * XPS analysis * X-ray effects * graphene oxide reduction
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 0.636, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0289407 - 4.0491216 - ÚJF 2019 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Torrisi, L. - Silipigni, L. - Cutroneo, Mariapompea
Radiation effects of IR laser on graphene oxide irradiated in vacuum and in air.
Vacuum. Roč. 153, č. 7 (2018), s. 122-131. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
Grant CEP: GA MŠMT EF16_013/0001812; GA MŠMT LM2015056; GA ČR GA16-05167S
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: Laser ablation * Graphene * Graphene oxide * XPS analysis * RBS analysis
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 2.515, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0285252 - 5.0460554 - ÚCHP 2017 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Brynda, Jiří
Possibilities of High Temperature Desulphurization of a Producer Gas.
Proceedings of abstracts. Prague: Institute of Chemical Process Fundamentals of the CAS, v. v. i., 2016 - (Bendová, M.; Wagner, Z.), s. 26-27. ISBN 978-80-86186-82-5.
[Bažant Postgraduate Conference 2016. Prague (CZ), 06.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:67985858
Klíčová slova: producer gas * desulfurization * xps analysis
Kód oboru RIV: CI - Průmyslová chemie a chemické inženýrství
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260600Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup SKMBT_C22016053109272.pdf 20 664.4 KB Vydavatelský postprint povolen - 6.0448161 - FZÚ 2016 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Macháč, P. - Cichoň, Stanislav - Mišková, L. - Vondráček, Martin
Graphene preparation by annealing of Co/SiC structure.
Applied Surface Science. Roč. 320, Nov (2014), s. 544-551. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2011029
Grant ostatní: SAFMAT(XE) CZ.2.16/3.1.00/22132
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: graphene * silicon carbide * cobalt * XPS analysis * Raman spectroscopy
Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
Impakt faktor: 2.711, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0249880 - 7.0323154 - ÚJF 2009 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kormunda, M. - Malinský, Petr - Macková, Anna - Švecová, B. - Nekvindová, P.
RBS and XPS measurements of Ag and Er implantation into the silica.
[Měření Ag a Er implantovaných v silikátových sklech metodami XPS a RBS.]
Book of Contributed Papers. Bratislava: Department of Experimental Physics, Comenius University in Bratislava, 2009, s. 179-180. ISBN 978-80-89186-45-7.
[17th Symphosium on Application of Plasma Processes. Liptovský Ján (SK), 17.01.2009-22.01.2009]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KJB100480601
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: Ag, Er implantation * silica glass * RBS and XPS analysis
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0171205