Výsledky vyhledávání
- 1.0368932 - ÚPT 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Jirák, J. - Čudek, P. - Neděla, Vilém
Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 17, Suppl. 2 (2011), s. 922-923. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: variable pressure scanning electron microscopes (VP-SEM) * scintillation detector * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.007, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203133 - 2.0368930 - ÚPT 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Neděla, Vilém - Konvalina, Ivo - Lencová, B. - Zlámal, J.
Simulation of Energy Selective signal Amplification in Gas Environment of Variable Pressure SEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 17, Suppl. 2 (2011), s. 920-921. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: variable pressure scanning electron microscopes (VP-SEM) * AQUASEM II * simlulation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.007, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203132 - 3.0322626 - ÚPT 2011 RIV CZ cze P - Patentový dokument
Neděla, Vilém - Jirák, Josef
Ionizační detektor environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu.
[The ionisation detector of the environmental scanning electron microscope.]
Praha: Úřad průmyslového vlastnictví, 2008. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum podání přihlášky: 04.10.2007. Datum udělení patentu: 05.11.2008. Číslo patentu: 299864
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ISEDS * secondary electrons * VP SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/299/299864.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170824 - 4.0322619 - ÚPT 2009 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Runštuk, Jiří - Neděla, Vilém
Komora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM.
[Chamber for a study of highly-aggressive samples in VP-SEM.]
Interní kód: HS-1 ; 2008
Technické parametry: Nově navržená a zkonstruovaná komora umožňuje studium agresivních vzorků při velmi vysokém tlaku plynů v komoře vzorku EREM tak, aby nedocházelo k poškození mikroskopu.
Ekonomické parametry: Zařízení lze použít v elektronových mikroskopech všech světových výrobců. Významně prodlužuje životnost a zlepšuje parametry mikroskopů v případě, že jsou dlouhodobě používány pro studium agresivních vzorků, jako jsou např. kyseliny.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * aggressive samples * chamber
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170818 - 5.0315099 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Maxa, J. - Neděla, Vilém
Differentially Pumped Chamber of VP-SEM Computed by the Use of Cosmos FloWorks Software.
[Diferenciálně čerpaná komora EREM počítaná pomocí softwaru Cosmos.]
Engineering Mechanics 2008. Prague: Institute of Thermomechanics AS CR, v. v. i., 2008 - (Fuis, V.; Pásek, M.), s. 603-611. ISBN 978-80-87012-11-6.
[Engineering Mechanics 2008. Svratka (CZ), 12.05.2008-15.05.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Cosmos FloWorks * VP SEM * gas flow
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165401 - 6.0315098 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Maxa, J. - Neděla, Vilém
Using Cosmos FloWorks to Design the Differentially Pumped Chamber.
[Using Cosmos FloWorks to Design the Differentially Pumped Chamber.]
Engineering Mechanics 2008. Prague: Institute of Thermomechanics AS CR, v. v. i., 2008 - (Fuis, V.; Pásek, M.), s. 156-157. ISBN 978-80-87012-11-6.
[Engineering Mechanics 2008. Svratka (CZ), 12.05.2008-15.05.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Cosmos FloWorks * VP-SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165400 - 7.0315083 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Runštuk, Jiří
Study of highly-aggressive samples using the variable pressure SEM.
[Studium vysoce agresivních vzorků pomocí EREM.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 589-590. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * battery mass * aggressive samples
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004854 - 8.0315082 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
Experimental and simulated signal amplification in variable pressure SEM.
[Experimentální a simulované zesílení signálu v mikroskopu VP-SEM.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 587-588. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * gas ionisation cascade * EOD * Monte-Carlo
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004853 - 9.0314389 - ÚPT 2009 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Neděla, Vilém
Dynamical "in situ" observation of biological samples using variable pressure scanning electron microscope.
[Dynamické „in situ“ pozorování biologických vzorků pomocí EREM.]
Journal of Physics: Conference Series. Roč. 126, - (2008), 012046:1-4. ISSN 1742-6588. E-ISSN 1742-6596.
[Electron Microscopy and Analysis Group Conference 2007 (EMAG 2007). Glasgow, 03.09.2007-07.09.2007]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: biological sample * VP-SEM * dynamical experiments
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164914 - 10.0314305 - ÚPT 2009 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Neděla, Vilém - Roubalíková, L. - Weyda, František
Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie a její aplikační možnosti.
[Environmental scanning electron microscopy and their.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 53, č. 2 (2008), s. 53-57. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z50070508
Klíčová slova: water containing samples * VP-SEM * non-conductive samples
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164858