Výsledky vyhledávání
- 1.0339817 - ÚACH 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Procházka, R. - Ettler, V. - Goliáš, V. - Klementová, Mariana - Mihaljevič, M. - Šebek, O. - Strnad, L.
A comparison of natural and experimental long-term corrosion of uranium-colored glass.
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 355, 43-44 (2009), s. 2134-2142. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40320502
Klíčová slova: corrosion * corrosion * geology and archeology * TEM/STEM
Kód oboru RIV: DD - Geochemie
Impakt faktor: 1.252, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183231 - 2.0331728 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Fasoli, M. - Vedda, A. - Lauria, A. - Moretti, F. - Rizzelli, E. - Chiodini, N. - Meinardi, F. - Nikl, Martin
Effect of reducing sintering atmosphere on Ce-doped sol–gel silica glasses.
[Efekt redukční sinterizační atmosféry na Ce-dopovaná skla připravovaná metodou sol-gel.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 355, 18-21 (2009), s. 1140-1144. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: TEM/STEM * luminescence * optical spectroscopy * Raman spectroscopy * silica
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.252, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0177167 - 3.0040682 - FZÚ 2007 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Mates, Tomáš - Bronsveld, P.C.P. - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
Detailed structural study of low temperature mixed-phase Si films by X-TEM and ambient conductive AFM.
[Detailní studium struktury nízkoteplotních Si vrstev se smíšenou strukturou pomocí X-TEM a atmosférického vodivostního AFM.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 352, - (2006), s. 1011-1015. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Grant CEP: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05; GA AV ČR(CZ) IAA1010316; GA AV ČR(CZ) IAA1010413; GA ČR(CZ) GD202/05/H003
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: silicon * solar cells * plasma deposition * atomic force and scanning tunneling microscopy * TEM/STEM
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.362, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0134348