Výsledky vyhledávání
- 1.0349393 - FZÚ 2011 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Jablonski, A. - Zemek, Josef
Remarks on some reference materials for applications in elastic peak electron spectroscopy.
Analytical Sciences. Roč. 26, č. 2 (2010), s. 239-246. ISSN 0910-6340. E-ISSN 1348-2246
Grant CEP: GA ČR GA202/09/0428
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: reference materials * EPES * IMFP
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.465, rok: 2010
http://www.jstage.jst.go.jp/article/analsci/26/2/239/_pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0189646 - 2.0134659 - FZU-D 20030560 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Jiříček, Petr - Zemek, Josef - Lejček, Pavel - Lesiak, B. - Jablonski, A. - Čerňanský, Marian
Stability of the inelastic mean free paths determined by elastic peak electron spectroscopy in nickel and silicon.
Journal of Vacuum Science & Technology A : Vacuum, Surfaces and Films. Roč. 20, č. 2 (2002), s. 447-455. ISSN 0734-2101. E-ISSN 1520-8559
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0237
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: Monte Carlo simulation * electron-solid interaction * inelastic mean free path(IMFP) * elastic peak electron spectroscopy(EPES)
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.301, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032553 - 3.0134643 - FZU-D 20030543 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Hucek, Stanislav - Lesiak, B. - Jablonski, A.
Measurements of escape probability of photoelectrons and the inelastic mean free path in silver sulphide.
Surface and Interface Analysis. Roč. 30, - (2000), s. 222-227. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant ostatní: GAUK(CZ) 1051-10/733
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: escape probability * IMFP * Ag2S
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.215, rok: 2000
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032538 - 4.0133728 - FZU-D 20020109 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Jablonski, A. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Pavluch, J.
Influence of surface composition and density on electron inelastic mean free paths in Ge.
Surface and Interface Analysis. Roč. 33, - (2002), s. 381-393. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0237
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: EPES * IMFP * Ge * composition * density * chemical bonding state
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.071, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031689 - 5.0104231 - FZU-D 20040573 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Lesiak, B. - Jablonski, A.
Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration.
[Pružný odraz elektronů od povrchu křemíku: vliv koncentrace nosičů náboje.]
Surface and Interface Analysis. Roč. 36, - (2004), s. 809-811. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0237
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: elastic peak electron spectroscopy(EPES) * inelastic mean free path(IMFP) * elastic electron backscattering probability * charge-carrier concentrations * silicon
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.209, rok: 2004
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0011506 - 6.0041048 - FZÚ 2007 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Werner, W. S. M. - Lesiak, B. - Jablonski, A.
Angular-resolved elastic peak electron spectroscopy: experiment and Monte Carlo calculations.
[Úhlově-rozlišitelná spektroskopie elastického píku: experiment a Monte Carlo výpočty.]
Surface and Interface Analysis. Roč. 38, - (2006), s. 615-619. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant ostatní: FWF(AT) P15938-N02; EU-SURPHARE(XE) GMA1-2002-72057
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: elastic peak electron spectroscopy * EPES * inelestic mean free path * IMFP * surface excitations
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.427, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0134640 - 7.0040962 - FZÚ 2007 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr
Determination of the inelastic mean free paths (IMFPs) in Ti by elastic peak electron spectroscopy (EPES): effect of impurities and surface excitations.
[Stanovení střední neelastické volné dráhy elektronů pro Ti: vliv nečistot a povrchových excitací.]
Applied Surface Science. Roč. 252, - (2006), s. 2741-2746. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/02/0237
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: elastic peak electron spectroscopy * EPES * inelastic mean free path * IMFP * electron elastic scattering cross section * surface excitation * Ti * Cu
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.436, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0003624 - 8.0026405 - FZÚ 2006 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Jablonski, A. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Čerňanský, Marian
Studies of iron and iron oxide layers by electron spectroscopes.
[Elektronově spektroskopická studia železa a oxidů železa.]
Applied Surface Science. Roč. 252, - (2005), s. 330-338. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/02/0237
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: iron * iron oxide layers * Fe 2.2O3 * Fe 2O3 * layer thickness * X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) * elastic peak electron spectroscopy (EPES) * Cu standard * inelastic mean free path (IMFP) * surface excitation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.263, rok: 2005
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0003226