Výsledky vyhledávání
- 1.0367278 - ÚPT 2012 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona
Electron optical properties of a focusing magnetic/immersion-magnetic lens combined with a cathode lens.
MC 2011 - Microscopy Conference Kiel. Kiel: DGE, 2011, IM1.112:1-2. ISBN 978-3-00-033910-3.
[MC 2011 - Microscopy Conference. Kiel (DE), 28.08.2011-02.09.2011]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MPO FR-TI1/305; GA MPO FR-TI1/118
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: cathode lens * aberration coefficients * spot size
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202018 - 2.0358594 - ÚPT 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Properties of the cathode lens combined with a focusing magnetic/immersion-magnetic lens.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 645, č. 1 (2011), s. 55-59. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA AV ČR IAA100650902; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: cathode lens * compound objective lens * aberration coefficients * spot size * field calculations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.207, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0196579 - 3.0350668 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin
Ray tracing, aberration coefficients and intensity distribution.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 49-52. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ray tracing * aberration coefficients * intensity distribution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350668_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190608 - 4.0333615 - ÚPT 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Oral, Martin - Lencová, Bohumila
Calculation of aberration coefficients by ray tracing.
Ultramicroscopy. Roč. 109, č. 11 (2009), s. 1365-1373. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Aberrations * Aberration coefficients * Ray tracing * Regression * Fitting
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.067, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178557 - 5.0314212 - ÚPT 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Lencová, Bohumila - Lenc, M. - Hawkes, P. W.
A pitfall in the calculation of higher order aberrations.
[Skryté nebezpečí při výpočtu aberací vyšších řádů.]
Ultramicroscopy. Roč. 108, č. 8 (2008), s. 737-740. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: aberration coefficients
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.629, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164793 - 6.0050994 - ÚPT 2007 cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Oral, Martin
Určení přesných trajektorií nabitých částic a vad soustav v částicové optice.
[Determination of exact charged-particle trajectories and aberrations of systems in particle optics.]
PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 45-48. ISBN 80-239-7957-4.
[PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: direct ray tracing * aberrations * aberration coefficients * intensity distribution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140996