Výsledky vyhledávání
- 1.0571242 - ÚPT 2023 RIV CZ eng O - Ostatní výsledky
Müllerová, Ilona - Materna Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo
Contamination mitigation strategy for SEMs.
2022
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: contamination * low energy electron microscopy * 2D crystals
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0342513 - 2.0481591 - ÚPT 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Polčák, J. - Paták, Aleš - Lejeune, M.
Examination of 2D crystals in a low voltage SEM/STEM.
13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 618-619. ISBN 978-953-7941-19-2.
[Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low voltage SEM/STEM * 2D crystals * contamination
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277164 - 3.0481338 - ÚPT 2018 CN eng A - Abstrakt
Mikmeková, Eliška - Paták, Aleš - Frank, Luděk - Sluyterman, S.
Scanning Ultra-Low-Energy Electron Microscopy of 2D Crystals.
BIT's 5th Annual Conference of AnalytiX-2017. Conference Abstract Book. Dalian: BIT Goup Global, 2017. s. 224.
[BIT's Annual Conference of AnalytiX-2017 /5./. 22.03.2017-24.03.2017, Fukuoka]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: ultra-Low-Energy Electron Microscopy * scanning * 2D Crystals
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276916 - 4.0450825 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk - Mikmeková, Eliška
Graphene examined with very slow electrons.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 182-183. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * 2D crystals * ultra-low-energy STEM * ultra-low-energy SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252038 - 5.0443322 - ÚPT 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Lejeune, M.
Counting graphene layers with very slow electrons.
Applied Physics Letters. Roč. 106, 09 JAN (2015), 013117:1-5. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * ultralow energy STEM * counting graphene layers * cleaning of graphene * 2D crystals
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.142, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246044