Vytisknout
0550700 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Konvalina, Ivo - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška
2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM.
[2D detection system for reflected electrons in UHV SLEEM.]
Interní kód: APL-2021-09 ; 2021
Technické parametry: Funkční vzorek 2D detekčního systému tvoří příruba s nosičem, na němž je uložena deska plošného spoje osazená senzorem a elektronickými součástkami. Součástí detektoru je řídící elektronika a obslužný software.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: pixelated detector * scanning * low energy electron microscopy * reflected electrons
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326005
Konvalina, Ivo - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška
2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM.
[2D detection system for reflected electrons in UHV SLEEM.]
Interní kód: APL-2021-09 ; 2021
Technické parametry: Funkční vzorek 2D detekčního systému tvoří příruba s nosičem, na němž je uložena deska plošného spoje osazená senzorem a elektronickými součástkami. Součástí detektoru je řídící elektronika a obslužný software.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: pixelated detector * scanning * low energy electron microscopy * reflected electrons
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326005