Vytisknout
0534937 - ÚPT 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Stopka, Jan
Analytical formulae for trajectory displacement in electron beam and generalized slice method.
Ultramicroscopy. Roč. 217, OCT (2020), č. článku 113050. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: coulomb interaction * trajectory displacement * electron optics * slice method * Holtzmark regime * pencil-beam regime
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 2.689, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0304399120302011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0313066
Stopka, Jan
Analytical formulae for trajectory displacement in electron beam and generalized slice method.
Ultramicroscopy. Roč. 217, OCT (2020), č. článku 113050. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: coulomb interaction * trajectory displacement * electron optics * slice method * Holtzmark regime * pencil-beam regime
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 2.689, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0304399120302011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0313066