Vytisknout
0459573 - ÚPT 2017 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Li, B. W. - Ruoff, R. S. - Lejeune, M.
Study of multi-layered graphene by ultra-low energy SEM/STEM.
Diamond and Related Materials. Roč. 63, March 2016 (2016), s. 136-142. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning ultra low energy electron microscopy * graphene * contamination * CVD
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.561, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0259759
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Li, B. W. - Ruoff, R. S. - Lejeune, M.
Study of multi-layered graphene by ultra-low energy SEM/STEM.
Diamond and Related Materials. Roč. 63, March 2016 (2016), s. 136-142. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning ultra low energy electron microscopy * graphene * contamination * CVD
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.561, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0259759