Vytisknout
0450842 - FZÚ 2016 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Chobola, Z. - Luňák, M. - Vaněk, J. - Hulicius, Eduard - Kusák, I.
Low-frequency noise measurements used for quality assessment of GaSb based laser diodes prepared by molecular beam epitaxy.
Journal of Electrical Engineering. Roč. 66, č. 4 (2015), s. 226-230. ISSN 0013-578X
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon solar-cells * electrical noise * tool
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252049
Chobola, Z. - Luňák, M. - Vaněk, J. - Hulicius, Eduard - Kusák, I.
Low-frequency noise measurements used for quality assessment of GaSb based laser diodes prepared by molecular beam epitaxy.
Journal of Electrical Engineering. Roč. 66, č. 4 (2015), s. 226-230. ISSN 0013-578X
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon solar-cells * electrical noise * tool
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252049