Vytisknout
0387384 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Mrňa, Libor - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Examination of metals and alloys with slow and very slow electrons.
METAL 2012 Conference Proceedings. 21st International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava: TANGER Ltd, 2012. ISBN 978-80-87294-29-1.
[METAL 2012. International Conference on Metallurgy and Materials /21./. Brno (CZ), 23.05.2012-25.05.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * microstructure characterization * chemical composition analysis * residual stress
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216605
Mikmeková, Šárka - Mrňa, Libor - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Examination of metals and alloys with slow and very slow electrons.
METAL 2012 Conference Proceedings. 21st International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava: TANGER Ltd, 2012. ISBN 978-80-87294-29-1.
[METAL 2012. International Conference on Metallurgy and Materials /21./. Brno (CZ), 23.05.2012-25.05.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * microstructure characterization * chemical composition analysis * residual stress
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216605