Vytisknout
0379915 - ÚPT 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Mikmeková, Eliška - Ikeno, S. - Shiojiri, M.
SLEEM and its Applications in Material Research.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 409: 1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210766
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Mikmeková, Eliška - Ikeno, S. - Shiojiri, M.
SLEEM and its Applications in Material Research.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 409: 1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210766