Vytisknout
0378662 - FZÚ 2013 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Novotný, Michal - Čížek, J. - Kužel, R. - Bulíř, Jiří - Lančok, Ján - Connolly, J. - McCarthy, E. - Krishnamurthy, S. - Mosnier, J.-P. - Anwand, W. - Brauer, G.
Structural characterization of ZnO thin films grown on various substrates by pulsed laser deposition.
Journal of Physics D-Applied Physics. Roč. 45, č. 22 (2012), 1-12. ISSN 0022-3727. E-ISSN 1361-6463
Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP108/11/0958; GA ČR GP202/09/P324
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: ZnO thin film * pulsed laser deposition * x-ray diffraction positron implantation spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.528, rok: 2012
http://dx.doi.org/10.1088/0022-3727/45/22/225101
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210077
Novotný, Michal - Čížek, J. - Kužel, R. - Bulíř, Jiří - Lančok, Ján - Connolly, J. - McCarthy, E. - Krishnamurthy, S. - Mosnier, J.-P. - Anwand, W. - Brauer, G.
Structural characterization of ZnO thin films grown on various substrates by pulsed laser deposition.
Journal of Physics D-Applied Physics. Roč. 45, č. 22 (2012), 1-12. ISSN 0022-3727. E-ISSN 1361-6463
Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP108/11/0958; GA ČR GP202/09/P324
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: ZnO thin film * pulsed laser deposition * x-ray diffraction positron implantation spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.528, rok: 2012
http://dx.doi.org/10.1088/0022-3727/45/22/225101
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210077