Vytisknout
0368141 - ÚPT 2012 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Klapetek, P.
Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy.
Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement. Aachen: Shaker Verlag, 2011, s. 17-20. ISBN 978-3-8440-0058-0.
[IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement /20./. Linz (AT), 16.05.2011-18.05.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale * iodine cells * spectroscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202571
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Klapetek, P.
Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy.
Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement. Aachen: Shaker Verlag, 2011, s. 17-20. ISBN 978-3-8440-0058-0.
[IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement /20./. Linz (AT), 16.05.2011-18.05.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale * iodine cells * spectroscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202571