Vytisknout
0366182 - FZÚ 2015 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Holovský, Jakub - Dagkaldiran, U. - Remeš, Zdeněk - Purkrt, Adam - Ižák, Tibor - Poruba, Aleš - Vaněček, Milan
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates.
Physica Status Solidi A. Roč. 207, č. 9 (2010), s. 578-581. ISSN 1862-6300. E-ISSN 1862-6319
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA ČR GA202/09/0417
GRANT EU: European Commission(XE) 38885 - SE-POWERFOIL
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: solar cell * silicon * spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.458, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201253
Holovský, Jakub - Dagkaldiran, U. - Remeš, Zdeněk - Purkrt, Adam - Ižák, Tibor - Poruba, Aleš - Vaněček, Milan
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates.
Physica Status Solidi A. Roč. 207, č. 9 (2010), s. 578-581. ISSN 1862-6300. E-ISSN 1862-6319
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA ČR GA202/09/0417
GRANT EU: European Commission(XE) 38885 - SE-POWERFOIL
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: solar cell * silicon * spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.458, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201253