Vytisknout
0355032 - FZÚ 2011 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon".
Physical Review. B. Roč. 81, č. 23 (2010), 237301/1-237301/4. ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: conductive atomic force microscopy * oxidation * microcrystalline silicon
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.772, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0193885
Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon".
Physical Review. B. Roč. 81, č. 23 (2010), 237301/1-237301/4. ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: conductive atomic force microscopy * oxidation * microcrystalline silicon
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.772, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0193885