Vytisknout
0353670 - FZÚ 2011 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Yanagida, T. - Fujimoto, Y. - Yoshikawa, A. - Yokota, Y. - Kamada, K. - Pejchal, Jan - Chani, V. - Kawaguchi, N. - Fukuda, K. - Uchiyama, K. - Mori, K. - Kitano, K. - Nikl, Martin
Development and performance test of picosecond pulse X-ray excited streak camera system for scintillator characterization.
Applied Physics Express. Roč. 3, č. 5 (2010), 056202/1-056202/3. ISSN 1882-0778. E-ISSN 1882-0786
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: scintillation decay * streak camera * picosecond X-ray pulse * BaF2
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.747, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192847
Yanagida, T. - Fujimoto, Y. - Yoshikawa, A. - Yokota, Y. - Kamada, K. - Pejchal, Jan - Chani, V. - Kawaguchi, N. - Fukuda, K. - Uchiyama, K. - Mori, K. - Kitano, K. - Nikl, Martin
Development and performance test of picosecond pulse X-ray excited streak camera system for scintillator characterization.
Applied Physics Express. Roč. 3, č. 5 (2010), 056202/1-056202/3. ISSN 1882-0778. E-ISSN 1882-0786
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: scintillation decay * streak camera * picosecond X-ray pulse * BaF2
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.747, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192847