Vytisknout
0352200 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Číp, Ondřej - Mikel, Břetislav - Čížek, Martin - Šmíd, Radek - Buchta, Zdeněk - Lazar, Josef
Laser interference nano-comparator for length sensor calibration in nanometric scale.
2nd International Conference NANOCON 2010. Ostrava: Tanger s.r.o, 2010, s. 274-277. ISBN 978-80-87294-19-2.
[NANOCON 2010. International Conference /2./. Olomouc (CZ), 12.10.2010-14.10.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276; GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GAP102/10/1813
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: nanoscale * precise measurement * laser * interferometer
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191769
Číp, Ondřej - Mikel, Břetislav - Čížek, Martin - Šmíd, Radek - Buchta, Zdeněk - Lazar, Josef
Laser interference nano-comparator for length sensor calibration in nanometric scale.
2nd International Conference NANOCON 2010. Ostrava: Tanger s.r.o, 2010, s. 274-277. ISBN 978-80-87294-19-2.
[NANOCON 2010. International Conference /2./. Olomouc (CZ), 12.10.2010-14.10.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276; GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GAP102/10/1813
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: nanoscale * precise measurement * laser * interferometer
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191769