Vytisknout
0324998 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Fekete, Ladislav - Kužel, Petr - Němec, Hynek - Kadlec, Filip - Deyneka, Alexander - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín
Ultrafast carrier dynamics in microcrystalline silicon probed by time-resolved terahertz spectroscopy.
[Ultrarychlá dynamika nositelů náboje v mikrokrystalickém křemíku studovaná pomocí časově rozlišené terahertzové spektroskopie.]
Physical Review. B. Roč. 79, č. 11 (2009), 115306/1-115306/13. ISSN 1098-0121. E-ISSN 2469-9969
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520; CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: microcrystalline silicon * amorphous silicon * terahertz * ultrafast * photoconductivity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.475, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172565
Fekete, Ladislav - Kužel, Petr - Němec, Hynek - Kadlec, Filip - Deyneka, Alexander - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín
Ultrafast carrier dynamics in microcrystalline silicon probed by time-resolved terahertz spectroscopy.
[Ultrarychlá dynamika nositelů náboje v mikrokrystalickém křemíku studovaná pomocí časově rozlišené terahertzové spektroskopie.]
Physical Review. B. Roč. 79, č. 11 (2009), 115306/1-115306/13. ISSN 1098-0121. E-ISSN 2469-9969
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520; CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: microcrystalline silicon * amorphous silicon * terahertz * ultrafast * photoconductivity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.475, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172565