Vytisknout
0205621 - UPT-D 20030003 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Šerý, Mojmír - Jákl, Petr - Ježek, Jan - Liška, M. - Zemánek, Pavel
Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů.
[Use of optically trapped probes for measurement of inaccessible transparent surface profiles.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 48, č. 6 (2003), s. 170 - 173. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA ČR GA101/00/0974; GA AV ČR IAA1065203
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: optical tweezers * microparticles * nanoparticles
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101234
Šerý, Mojmír - Jákl, Petr - Ježek, Jan - Liška, M. - Zemánek, Pavel
Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů.
[Use of optically trapped probes for measurement of inaccessible transparent surface profiles.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 48, č. 6 (2003), s. 170 - 173. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA ČR GA101/00/0974; GA AV ČR IAA1065203
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: optical tweezers * microparticles * nanoparticles
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101234