Vytisknout
0185810 - UJF-V 20033134 RIV JP eng G - Konferenční sborník (zahraniční konf.)
Vacík, Jiří - Červená, Jarmila - Hnatowicz, Vladimír - Naramoto, H.
Elemental analysis with neutron beams: neutron depth profiling.
Tokyo: Japan Electrochemical Society, 2003. 6 s.
[Regular Meeting of Japan Electrochemical Society. Tokyo (JP), 07.10.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
Klíčová slova: NDP * elemental analysis
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0082174
Vacík, Jiří - Červená, Jarmila - Hnatowicz, Vladimír - Naramoto, H.
Elemental analysis with neutron beams: neutron depth profiling.
Tokyo: Japan Electrochemical Society, 2003. 6 s.
[Regular Meeting of Japan Electrochemical Society. Tokyo (JP), 07.10.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
Klíčová slova: NDP * elemental analysis
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0082174