Vytisknout
0088945 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Frank, Luděk
Enhancement of SEM to scanning LEEM.
[Rozšíření SEM na rastrovací LEEM.]
Surface Science. Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * LEEM * scanning LEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.855, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150316
Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Frank, Luděk
Enhancement of SEM to scanning LEEM.
[Rozšíření SEM na rastrovací LEEM.]
Surface Science. Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * LEEM * scanning LEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.855, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150316