Vytisknout
0549399 - ÚPT 2022 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Stopka, Jan - Zuidema, W. - Kruit, P.
Trajectory displacement in a multi beam scanning electron microscope.
Ultramicroscopy. Roč. 223, April (2021), č. článku 113223. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Trajectory displacement * Multi-beam electron microscope * Coulomb interactions * Slice method * Electron optics
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 2.994, rok: 2021 ; AIS: 0.857, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
Web výsledku:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S030439912100019XDOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2021.113223
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325417
Stopka, Jan - Zuidema, W. - Kruit, P.
Trajectory displacement in a multi beam scanning electron microscope.
Ultramicroscopy. Roč. 223, April (2021), č. článku 113223. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Trajectory displacement * Multi-beam electron microscope * Coulomb interactions * Slice method * Electron optics
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 2.994, rok: 2021 ; AIS: 0.857, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
Web výsledku:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S030439912100019XDOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2021.113223
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325417