Vytisknout
0178599 - UFP-V 980019 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějíček, Jiří - Sampath, S. - Dubský, Jiří
Residual Stress Measurement in Plasma Sprayed Coatings by x-Ray Diffraction.
Thermal Spray: A United Forum for Scientific and Technological Advances. Materials Park, OH: ASM International, 1998 - (Berndt, C.), s. 855-860. ISBN 0-87170-618-0.
[United Thermal Spray Conference /1./. Indianapolis (US), 15.09.1997-18.09.1997]
Grant CEP: GA ČR GA106/97/0775
Kód oboru RIV: JH - Keramika, žáruvzdorné materiály a skla
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0075466
Matějíček, Jiří - Sampath, S. - Dubský, Jiří
Residual Stress Measurement in Plasma Sprayed Coatings by x-Ray Diffraction.
Thermal Spray: A United Forum for Scientific and Technological Advances. Materials Park, OH: ASM International, 1998 - (Berndt, C.), s. 855-860. ISBN 0-87170-618-0.
[United Thermal Spray Conference /1./. Indianapolis (US), 15.09.1997-18.09.1997]
Grant CEP: GA ČR GA106/97/0775
Kód oboru RIV: JH - Keramika, žáruvzdorné materiály a skla
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0075466