Vytisknout
0510315 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very Low Energy Electron Transmission Spectro-Microscopy.
Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 609-610.
[Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy * electron transmission spectro-microscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Web výsledku:
https://www.microscopy-conference.de
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300821
Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very Low Energy Electron Transmission Spectro-Microscopy.
Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 609-610.
[Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy * electron transmission spectro-microscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Web výsledku:
https://www.microscopy-conference.de
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300821