Vytisknout
0205251 - UPT-D 20000027 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
Effect of the electron beam accelerating voltage and of specimen coating on the image in the microscope operating at higher pressures.
Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 2000 - (Frank, L.; Čiampor, F.), s. I245-I246. ISBN 80-238-5503-4.
[EUREM /12./ - European Congress on Electron Microscopy. Brno (CZ), 09.07.2000-14.07.2000]
Grant CEP: GA ČR GA102/00/0969
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100869
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
Effect of the electron beam accelerating voltage and of specimen coating on the image in the microscope operating at higher pressures.
Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 2000 - (Frank, L.; Čiampor, F.), s. I245-I246. ISBN 80-238-5503-4.
[EUREM /12./ - European Congress on Electron Microscopy. Brno (CZ), 09.07.2000-14.07.2000]
Grant CEP: GA ČR GA102/00/0969
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100869