Vytisknout
0497477 - FZÚ 2019 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Šimurka, L. - Čtvrtlík, Radim - Tomáštík, Jan - Bektas, G. - Svoboda, Jan - Bange, K.
Mechanical and optical properties of SiO2 thin films deposited on glass.
Chemical Papers. Roč. 72, č. 9 (2018), s. 2143-2151. ISSN 0366-6352
Grant CEP: GA MŠMT EF16_013/0001403
Grant ostatní: OP VVV - CTAO-CZ(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_013/0001403; OPPK(XE) CZ.2.16/3.1.00/21545
Program: OPPK
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389013
Klíčová slova: SiO2 films * glass * mechanical properties * refractive index * residual stress
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale); Inorganic and nuclear chemistry (UMCH-V)
Impakt faktor: 1.246, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0290050
Šimurka, L. - Čtvrtlík, Radim - Tomáštík, Jan - Bektas, G. - Svoboda, Jan - Bange, K.
Mechanical and optical properties of SiO2 thin films deposited on glass.
Chemical Papers. Roč. 72, č. 9 (2018), s. 2143-2151. ISSN 0366-6352
Grant CEP: GA MŠMT EF16_013/0001403
Grant ostatní: OP VVV - CTAO-CZ(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_013/0001403; OPPK(XE) CZ.2.16/3.1.00/21545
Program: OPPK
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389013
Klíčová slova: SiO2 films * glass * mechanical properties * refractive index * residual stress
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale); Inorganic and nuclear chemistry (UMCH-V)
Impakt faktor: 1.246, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0290050