0449460 - FZÚ 2016 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Jirásek, Vít - Ižák, Tibor - Varga, Marián - Babchenko, Oleg - Kromka, Alexander
Investigation of residual stress in structured diamond films grown on silicon.
Thin Solid Films. Roč. 589, Aug (2015), 857-863. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Grant CEP: GA ČR(CZ) GP14-16549P
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: CVD diamond * thermal stress * selective area deposition * FEM simulations
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.761, rok: 2015 ; AIS: 0.426, rok: 2015
DOI: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2015.07.022
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0251001