Vytisknout
0469517 - ÚFE 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vaniš, Jan - Zelinka, J. - Zeipl, R. - Jelínek, M. - Kocourek, T. - Remsa, J. - Navrátil, J.
Scanning Thermal Microscopy of Thermoelectric Nanostructures.
Journal of Electronic Materials. Roč. 45, č. 3 (2016), s. 1734-1739. ISSN 0361-5235. E-ISSN 1543-186X
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: secondary ion mass spectrometry * laser deposition * pulsed laser deposition
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.579, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267303
Vaniš, Jan - Zelinka, J. - Zeipl, R. - Jelínek, M. - Kocourek, T. - Remsa, J. - Navrátil, J.
Scanning Thermal Microscopy of Thermoelectric Nanostructures.
Journal of Electronic Materials. Roč. 45, č. 3 (2016), s. 1734-1739. ISSN 0361-5235. E-ISSN 1543-186X
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: secondary ion mass spectrometry * laser deposition * pulsed laser deposition
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.579, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267303