0544249 - ÚFCH JH 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Marchand, R. - Šachl, Radek - Kalbáč, Martin - Hof, Martin - Tromp, R. - Amaro, Mariana Manuela - van der Molen, M. - Juffmann, T.
Optical Near-Field Electron Microscopy.
Physical Review Applied. Roč. 16, č. 1 (2021), č. článku 014008. ISSN 2331-7019. E-ISSN 2331-7019
Grant CEP: GA ČR(CZ) GX19-26854X
Institucionální podpora: RVO:61388955
Klíčová slova: Electron microscopy * Image resolution * Optical imaging technique * Membrane
Obor OECD: Physical chemistry
Impakt faktor: 4.931, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevApplied.16.014008

Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0321279