0352939 - ÚPT 2011 US eng A - Abstrakt
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Scanning transmission low energy electron microscopy.
The 7th International Workshop on LEEM/PEEM. New York: IBM T.J. Watson Research Center, 2010. s. 25.
[LEEM/PEEM /7./. 08.08.2010-13.08.2010, New York]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscope * he low energy electron microscope * graphene
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192317