Vytisknout
0465207 - ÚPT 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hrubanová, Kamila - Samek, Ota - Haroniková, A. - Bernatová, Silvie - Zemánek, Pavel - Márová, I. - Krzyžánek, Vladislav
Morphological and Production Changes in Stressed Red Yeasts Monitored Using SEM and Raman Spectroscopy.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 22, S3 (2016), s. 1146-1147. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA ČR(CZ) GA15-20645S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * Raman spectroscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.891, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263878
Hrubanová, Kamila - Samek, Ota - Haroniková, A. - Bernatová, Silvie - Zemánek, Pavel - Márová, I. - Krzyžánek, Vladislav
Morphological and Production Changes in Stressed Red Yeasts Monitored Using SEM and Raman Spectroscopy.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 22, S3 (2016), s. 1146-1147. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA ČR(CZ) GA15-20645S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * Raman spectroscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.891, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263878