Vytisknout
0384097 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Characterization of the local crystallinity via reflectance of very slow electrons.
Applied Physics Letters. Roč. 100, č. 26 (2012), 261602:1-4. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very slow electrons * crystal system * electron backscatter diffraction analyses
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.794, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213844
Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Characterization of the local crystallinity via reflectance of very slow electrons.
Applied Physics Letters. Roč. 100, č. 26 (2012), 261602:1-4. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very slow electrons * crystal system * electron backscatter diffraction analyses
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.794, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213844