Košík

0583091 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Psota, Pavel - Kredba, J. - Stašík, M. - Nečásek, Jakub - Matoušek, O. - Lédl, Vít
Absolute wavelength scanning interferometry for measuring the thickness of optical elements.
Optics Express. Roč. 31, č. 3 (2023), s. 3565-3578. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: interferometry * wavelength * optical elements
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.8, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://opg.optica.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-31-3-3565&id=525241
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0351090