Košík

0582247 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Tkachenko, V. - Lipp, V. - Buescher, M. - Capotondi, F. - Hoeppner, H. - Medvedev, Nikita - Pedersoli, E. - Prandolini, M.J. - Rossi, G.M. - Tavella, F. - Toleikis, S. - Windeler, M. - Ziaja, B. - Teubner, U.
Effect of Auger recombination on transient optical properties in XUV and soft X-ray irradiated silicon nitride.
Scientific Reports. Roč. 11, č. 1 (2021), č. článku 5203. ISSN 2045-2322. E-ISSN 2045-2322
Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT EF16_013/0001552
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: XUV * X-ray * silicon nitride
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 4.997, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.nature.com/articles/s41598-021-84677-w
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0350345