Košík

0579321 - ÚPT 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Skoupý, Radim - Boltje, D. B. - Šlouf, Miroslav - Mrázová, Kateřina - Láznička, Tomáš - Taisne, C. M. - Krzyžánek, Vladislav - Hoogenboom, J. P. - Jakobi, A. J.
Robust Local Thickness Estimation of Sub-Micrometer Specimen by 4D-STEM.
Small Methods. Roč. 7, č. 9 (2023), č. článku 2300258. ISSN 2366-9608. E-ISSN 2366-9608
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA21-13541S; GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:61389013
Klíčová slova: 4D-STEM * cryo-ET * FIB milling * TEM analysis
Obor OECD: Electrical and electronic engineering; Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect) (UMCH-V)
Impakt faktor: 12.4, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/smtd.202300258
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0348160