Košík

  1. 1.
    0572001 - FZÚ 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hospodková, Alice - Hájek, František - Hubáček, Tomáš - Gedeonová, Zuzana - Hubík, Pavel - Hývl, Matěj - Pangrác, Jiří - Dominec, Filip - Košutová, Tereza
    Electron transport properties in high electron mobility transistor structures improved by V-Pit formation on the AlGaN/GaN interface.
    ACS Applied Materials and Interfaces. Roč. 15, č. 15 (2023), s. 19646-19652. ISSN 1944-8244. E-ISSN 1944-8252
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LTAIN19163; GA ČR(CZ) GF22-28001K; GA MŠMT LM2023051
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: HEMT * GaN * AlGaN * metal-organic vapor phase epitaxy * dislocations * electron mobility
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Impakt faktor: 9.5, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0342845
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0572001.pdf04.8 MBCC LicenceVydavatelský postprintpovolen
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.