Košík

    1.
    0569549 US BXXS
    Scheuer, J. (ed.) - Shahriar, S. M. (ed.)
    Optical and Quantum Sensing and Precision Metrology II.
    Bellingham: SPIE, 2022. Proceedings of SPIE, 12016. ISBN 978-1-5106-4903-3. ISSN 0277-786X
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše