Košík

0568882 - FZÚ 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Gutiérrez, Y. - Espinoza Herrera, Shirly J. - Zahradník, Martin - Khakurel, Krishna - Resl, J. - Cobet, C. - Hingerl, K. - Duwe, M. - Thiesen, P. - Losurdo, M.
Characterizing optical phase-change materials with spectroscopic ellipsometry and polarimetry.
Thin Solid Films. Roč. 763, DEC (2022), č. článku 139580. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Grant CEP: GA MŠMT EF16_019/0000789; GA MŠMT EF15_003/0000447; GA MŠMT(CZ) LM2018141
Grant ostatní: OP VVV - ADONIS(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000789; OP VVV - ELIBIO(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_003/0000447
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: ellipsometry * polarimetry * phase -change materials
Obor OECD: Particles and field physics
Impakt faktor: 2.1, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0340160