Košík

0567887 - ÚTAM 2024 RIV eng P - Patentový dokument
Vavřík, Daniel
X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses.
2023. Vlastník: Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení patentu: 04.01.2023. Číslo patentu: EP3828534. Teritoriální ochrana: evropský patent podle Evropské patentové úmluvy .
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000766
Institucionální podpora: RVO:68378297
Klíčová slova: stratigraphy * in-situ X-ray methods
Obor OECD: Nuclear related engineering
https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/074099624/publication/EP3828534A1?q=pn%3DEP3828534A1
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339145