Košík

0567284 - ÚPT 2023 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Podstránský, Jáchym - Knápek, Alexandr
Automated defectoscopy of thin poly (methyl methacrylate) layers.
Electroscope. Roč. 2022, č. 1 (2022), č. článku 8. ISSN 1802-4564
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: defects in resist * artificial intelligence * image processing * automatization
Obor OECD: Automation and control systems
Způsob publikování: Open access
http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2020/Cislo1_2022/r16c1c7.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0338550