Košík

  1. 1.
    0555694 - ÚFP 2022 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Das, Nirmal Kumar - Kanclíř, Vít - Mokrý, Pavel - Žídek, Karel
    Bulk and interface second harmonic generation in the Si3N4 thin films deposited via ion beam sputtering.
    Journal of Optics. Roč. 23, č. 2 (2021), č. článku 024003. ISSN 2040-8978. E-ISSN 2040-8986
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390; GA ČR(CZ) GA19-22000S
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) ERC100431901
    Program: ERC-CZ/AV
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: silicon nitride * thin films * ellipsometry * second harmonic generation (SHG) * bulk * interface
    Obor OECD: Coating and films
    Impakt faktor: 2.077, rok: 2021
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://iopscience.iop.org/article/10.1088/2040-8986/abe450
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330158
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.